現(xiàn)貨出售 4284A+42841A+42842A安捷倫惠普LCR電橋維修李甜
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深圳佳捷倫電子儀器有限公司

：歐陽先生

：李甜

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4284A+42841A+42842A安捷倫惠普LCR電橋維修銷售
?Agilent 4284A|HP4284A|HP-4284A|LCR測試儀|數(shù)字電橋 20Hz至1MHz
: 安捷倫 | Agilent | 惠普 | HP
·20Hz-1MHz具有8600個以上的測試頻率
·0.05%的基本精度，6位數(shù)字分辨率
·恒定的V或I測試信號電平
·20Vrms電平選件（選件001）
·用Alilent 42841A進給出40Adc
·具有列表掃描測量功能
Agilent 4284A精密LCR測試儀是用于元件和材料測量的價廉物美的儀器。它通過提供精密、高吞吐量的測試方法來改善元件的質量。
20Hz到1MHz寬的測頻范圍和優(yōu)良的測試信號，使4284A在測試元件時符合通行的測試標準如IEC/MIL標準（國際電工委或美國標準），且工作在模擬所使用的工作條件下。
無論在研究開發(fā)、生產、質量保證中還是進貨檢驗，4284A都能滿足全部LCR測量要求。

Agilent 4278A詳細資料：
Agilent 4278A|HP-4278A|HP4278A|電橋|LCR測試儀|惠普
:安捷倫 | Agilent | 惠普 | HP
4278A技術指標：
4278A測量參數(shù) C-D，Q，ESR，G 
4278A測試信號 
4278A頻率： 1kHz和1MHz±0.02% 
信號電平： 0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步進 
測量時間： 6.5ms/10ms/21ms(典型值） 
測量范圍 測量參數(shù) 1kHz 1MHz正常模式
1MHz高精度 
4278A電纜長度補償 0,1或2m 
Agilent 4278A比較器：對電容的10倉室分類，對D、Q、ESR和G的合格/不合格測試 
存儲卡插槽 外部存儲器的存儲卡插槽用于對控制設置和比較極限進行分類和調用
（存儲卡可任選，參見下面的選件004）。 
4278A一般技術指標Agilent 4278A
測量速度:6.5ms/10ms/21ms 
測量參數(shù):C-D,Q,ESR,G 
C-D測量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms) 
0.05%,0.0002(1MHz,21ms)
Agilent 4278A詳細資料：
測量速度:6.5ms/10ms/21ms 
測量參數(shù):C-D,Q,ESR,G 
C-D測量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms) 
0.05%,0.0002(1MHz,21ms)
Agilent 4278A 1kHz/1MHz電容測試儀是一臺高速高可靠的精密測試儀器，用于生
產線和質量控制中作電容器的進出廠檢。Agilent 4278A 能改善小電容量和中等電
容器的測試效率（可測量以200μF，這個電容量能容納多數(shù)陶瓷和薄膜電容器的數(shù)據(jù)值）。
技術指標：
測量參數(shù)
C-D，Q，ESR，G
測試信號
頻率：
1kHz和1MHz±0.02%
信號電平：
0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步進
測量時間：
6.5ms/10ms/21ms(典型值）
測量范圍
測量參數(shù)
1kHz
1MHz正常模式
1MHz高精度
C
0.01pF~200.000μF
0.00001pF~1280.00pF
。Agilent 4278A 能改善小電容量和中等電
容器的測試效率（可測量以200μF，這個電容量能容納多數(shù)陶瓷和薄膜電容器的數(shù)據(jù)值）。
測量速度:6.5ms/10ms/21ms 
測量參數(shù):C-D,Q,ESR,G 
C-D測量精度:0.07%,0.0005（1kHz,21ms） 
0.05%,0.0002（1MHz,21ms）
Agilent 4278A 1kHz/1MHz電容測試儀是一臺高速高可靠的精密測試儀器，用于生
產線和質量控制中作電容器的進出廠檢
_HP4278A阻抗分析儀、價格
Agilent 4278A|HP-4278A|HP4278A|電橋|LCR測試儀|惠普
:安捷倫 | Agilent | 惠普 | HP
4278A技術指標：
4278A測量參數(shù) C-D，Q，ESR，G 
4278A測試信號 
4278A頻率： 1kHz和1MHz±0.02% 
信號電平： 0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步進 
測量時間： 6.5ms/10ms/21ms(典型值） 
測量范圍 測量參數(shù) 1kHz 1MHz正常模式
1MHz高精度 
4278A電纜長度補償 0,1或2m 
Agilent 4278A比較器：對電容的10倉室分類，對D、Q、ESR和G的合格/不合格測試 
存儲卡插槽 外部存儲器的存儲卡插槽用于對控制設置和比較極限進行分類和調用
（存儲卡可任選，參見下面的選件004）。 
4278A一般技術指標Agilent 4278A
測量速度:6.5ms/10ms/21ms 
測量參數(shù):C-D,Q,ESR,G 
C-D測量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms) 
0.05%,0.0002(1MHz,21ms)
Agilent 4278A詳細資料：
測量速度:6.5ms/10ms/21ms 
測量參數(shù):C-D,Q,ESR,G 
C-D測量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms) 
0.05%,0.0002(1MHz,21ms)
Agilent 4278A 1kHz/1MHz電容測試儀是一臺高速高可靠的精密測試儀器，用于生
產線和質量控制中作電容器的進出廠檢。Agilent 4278A 能改善小電容量和中等電
容器的測試效率（可測量以200μF，這個電容量能容納多數(shù)陶瓷和薄膜電容器的數(shù)據(jù)值）。
技術指標：
測量參數(shù)
C-D，Q，ESR，G
測試信號
頻率：
1kHz和1MHz±0.02%
信號電平：
0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步進
測量時間：
6.5ms/10ms/21ms(典型值）
測量范圍
測量參數(shù)
1kHz
1MHz正常模式
1MHz高精度
C
0.01pF~200.000μF
0.00001pF~1280.00pF
0.00004pF~2663.00pF
D
0.00001~9.99999
0.00001pF~9.99999
0.00001pF~0.99999
電纜長度補償
0,1或2m
比較器：
對電容的10倉室分類，對D、Q、ESR和G的合格/不合格測試
存儲卡插槽
外部存儲器的存儲卡插槽用于對控制設置和比較極限進行分類和調用（存儲卡可任選，參見下面的選件
004）。
一般技術指標：
工作溫度/濕度
5°~45℃，在40℃時相對濕度為95%
電源
100,120,220Vac±10%,240Vac+5-10%,48~66Hz,200V 
Amax
尺寸
約426mm(寬）*177mm(高）*498mm(長）（16.77英寸*6.97英寸*19.61英寸)
重量：
約15kg(33磅，標準）
測量速度:6.5ms/10ms/21ms                                                  
測量參數(shù):C-D,Q,ESR,G                                                      
C-D測量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms)                                       
0.05%,0.0002(1MHz,21ms)


備注：
我們的優(yōu)勢：
品種齊全，貨源充足，存庫雄厚，服務快捷，維修能力強。
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我公司對銷售的儀器儀表均負責保修一年.
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