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儀器校準(zhǔn)的周期是校準(zhǔn)機構(gòu)還是實驗室定義的？
1、依據(jù)

CNAS-CL01中條款7.8.4.3
校準(zhǔn)證書(或校準(zhǔn)標(biāo)簽)不應(yīng)包含校準(zhǔn)周期的建議，除非已與客戶達成協(xié)議。該要求可能被法規(guī)取代。

明確規(guī)定校準(zhǔn)實驗室不能給出校準(zhǔn)周期的建議。校準(zhǔn)周期由實驗室根據(jù)計量器具的實際使用情況，本著科學(xué)、經(jīng)濟和量值準(zhǔn)確的原則自行確定。
儀器在*次校準(zhǔn)之后，第二次校準(zhǔn)時間先規(guī)定1年，1年后送校準(zhǔn)實驗室校準(zhǔn)還是很“準(zhǔn)”(與*次校準(zhǔn)比較在誤差范圍內(nèi))，就可定2年了，依次類推.

公眾號實驗室ISO17025提示,校準(zhǔn)周期一般不能過3年，期間一定需安排期間核查，如果發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定情況，就需重新校準(zhǔn)。

2、必須按儀器校準(zhǔn)規(guī)程規(guī)的周期校準(zhǔn)嗎
用戶的使用情況是千差萬別的，若不加區(qū)別的一律機械的按照校準(zhǔn)規(guī)程規(guī)定的周期進行校準(zhǔn)，很難保證所有的測量儀器在校準(zhǔn)周期內(nèi)都是合格的。因此，必須按照測量儀器的實際使用情況確定校準(zhǔn)周期。但是，由于實際情況相當(dāng)復(fù)雜，要*正確確定校準(zhǔn)周期，是難以辦到的，只能要求大體上正確、合理，使實際情況更加完善、科學(xué)，更加經(jīng)濟合理。
盲目的縮短校準(zhǔn)周期將造成社會資源的浪費，對測量儀器的壽命、準(zhǔn)確度及生產(chǎn)和人力也將帶來不利影響。而單純由于資金缺乏或人員不夠而延長校準(zhǔn)周期將是十分危險的，可能由于使用不準(zhǔn)確的測量儀器帶來更大的風(fēng)險甚至嚴重的后果。

3、確定儀器校準(zhǔn)周期的依據(jù)
(1)使用的頻繁程度。使用頻繁的測量儀器，容易使其計量性能降低，故可以縮短校準(zhǔn)周期來解決。當(dāng)然，提高測量儀器所用的原材料性質(zhì)、制造工藝和使用壽命也是重要的手段。
(2)測量準(zhǔn)確度的要求。要求準(zhǔn)確度高的單位，可適當(dāng)縮短校準(zhǔn)周期。各個單位要根據(jù)自己的實際情況決定，需要什么準(zhǔn)確度等級，就選擇什么等級。該高就高，該低就低，不盲目追求高準(zhǔn)確度，以免造成不必要的損失;但精度過低，滿足不了使用要求，給工作帶來損失，也是不可取的。
(3)使用單位的維護保養(yǎng)能力。如果單位的維護保養(yǎng)比較好，則適當(dāng)縮短校準(zhǔn)周期;反之，則長一些。
(4)測量儀器的性能，特別是長期穩(wěn)定性和可靠性的水平。即使同類型的測量儀器，穩(wěn)定性、可靠性差的，校準(zhǔn)周期應(yīng)短一些。
(5)對產(chǎn)品質(zhì)量關(guān)系較大的，以及有特殊要求的測量儀器，其校準(zhǔn)周期則相對短一些;反之，則長一些。

4、4種確定校準(zhǔn)的方法
1.統(tǒng)計法：
根據(jù)測量儀器的結(jié)構(gòu)、預(yù)期可靠性和穩(wěn)定性的相似情況，將測量儀器初步分組，然后根據(jù)一般的常規(guī)知識初步確定各組儀器的校準(zhǔn)周期。
對每一組測量儀器，統(tǒng)計在規(guī)定周期內(nèi)差或其他不合格的數(shù)目，計算在給定的周期內(nèi)，這些儀器與該組合格儀器數(shù)之比。在確定不合格測量儀器時，應(yīng)排除明顯損壞或由用戶因可疑或缺陷而返回的儀器。如果不合格儀器所占的比例很高，應(yīng)縮短校準(zhǔn)周期。
如果證明不合格儀器所占的比例很低，則延長校準(zhǔn)周期可能是經(jīng)濟合理的。如果發(fā)現(xiàn)某一分組的儀器(或某一廠家制造的或某一型號)不能和組內(nèi)其他儀器一樣工作時，應(yīng)將該組劃為具有不同周期的其他組。
2.小時時間法：
這種方法是確認儀器校準(zhǔn)周期以實際工作的小時數(shù)表示。可以將測量儀器與計時指示器相連，當(dāng)指示器達到規(guī)定值時，將該儀器送回校準(zhǔn)。這種方法在理論上的主要優(yōu)點是，進行確認的儀器數(shù)目和確認費用與使用的時間成正比，此外可自動核對儀器的使用時間。
例如我們使用某公司的示波器，不用連接計時器，可以直接在示波器上查到連續(xù)使用了多長時間，很方便管理。
但是，這種方法在實踐中有下列缺點:
(1)當(dāng)測量儀器在儲存、搬運或其他情況發(fā)生漂移或損壞時，則不應(yīng)使用本方法;
(2)提供和安裝合適的計時器，起點費用高，而且由于可能受到使用者干擾而需要在下進行，又增加了費用。
3.比較法：
當(dāng)每臺測量儀器按規(guī)定的的校準(zhǔn)周期進行校準(zhǔn)，將校準(zhǔn)數(shù)據(jù)和前幾次的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)相比，如果連續(xù)幾個周期的校準(zhǔn)結(jié)果均在規(guī)定的允許范圍內(nèi)，則可以延長它的校準(zhǔn)周期;如果發(fā)現(xiàn)出允許的范圍，則應(yīng)縮短該儀器的校準(zhǔn)周期。
4.圖表法：
測量儀器在每次校準(zhǔn)中，選擇有代表性的同一校準(zhǔn)點，將它們的校準(zhǔn)結(jié)果按時間描點，畫成曲線，根據(jù)這些曲線計算出該儀器一個或幾個校準(zhǔn)周期內(nèi)的有效漂移量，從這些圖表的數(shù)據(jù)中，可推算出*的校準(zhǔn)周期。

5、儀器校準(zhǔn)周期可以自己規(guī)定嗎?
一般儀器校準(zhǔn)后證書上都會一年一校準(zhǔn)，有人說一些設(shè)備是完全不用每年都校準(zhǔn)的。設(shè)備的校準(zhǔn)周期可以自己規(guī)定嗎?如果按自己規(guī)定的周期校準(zhǔn)的話評審組認可嗎?
*是自己規(guī)定校準(zhǔn)周期，因為校準(zhǔn)周期是和設(shè)備的使用情況相關(guān)的。校準(zhǔn)周期可以自己確定，但同時還要參照國內(nèi)的計量法要求(如果你們申請的是CNAS認可)。可以調(diào)整設(shè)備校準(zhǔn)周期，但前提是你們必須給出調(diào)整后的合理依據(jù)，否則，審核時仍然不會被接受。

6、儀器校準(zhǔn)的問題應(yīng)該問儀器設(shè)備公司嗎?
儀器校準(zhǔn)公司不了解設(shè)備的使用頻率、保養(yǎng)情況、使用環(huán)境等因素，他給你定的校準(zhǔn)周期不一定合理，比如一把鋼尺，保管得很好，一年就用兩三次;另一把鋼尺，隨便放工作臺上，*8個小時都在用;校準(zhǔn)公司給的校準(zhǔn)周期肯定都是1年1次，這樣對*把尺子校準(zhǔn)周期太短了，對第二把尺子校準(zhǔn)周期又太長，三五個月可能就失準(zhǔn)了。僅對于企業(yè)實驗室，第三方實驗室因為要通過資質(zhì)認定，要求不一樣，可能很多設(shè)備都需要。

7、儀器校準(zhǔn)周期和期間核查的聯(lián)系
*有規(guī)定在校準(zhǔn)周期內(nèi)，設(shè)備維修、更換關(guān)鍵零部件、儀器遷移等要重新校準(zhǔn)，在校準(zhǔn)周期內(nèi)還要進行設(shè)備的期間核查，來保證設(shè)備的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性。如果設(shè)備，這里指的是設(shè)備而不是尺子、圓規(guī)等，自己定義校準(zhǔn)周期則要小于*規(guī)定的周期。
實驗室可以根據(jù)儀器特點，使用頻率等等特性，自定義校準(zhǔn)周期，只要保證設(shè)備處于正確使用狀態(tài)，能達到預(yù)期使用即可。通常需要提供期間核查等措施，來證明儀器處于良好狀態(tài)。但校準(zhǔn)周期也不是越長越好，因為時間越長，可靠性越差。

校正光學(xué)系統(tǒng)像差原則十條：
世通檢測分享的校正光學(xué)系統(tǒng)像差原則十條如下：

(1)各光組以至各面的像差分布要合理。在考慮初始結(jié)構(gòu)時，可將要校正的像差列成用P、W表示的方程組，這種方程組可能有多組解，也可能是病態(tài)的，或無解。若是前者，應(yīng)選一合理的解;若是后者，應(yīng)取*小二乘解。之，有多種解方程組的算法可資利用，在計算機上實現(xiàn)并不困難。然后，應(yīng)盡量做到各個面上以較小的像差值相抵消，這樣就不至于會有很大的高級像差。在此，各透鏡組的光焦度分配、各個面的偏角負擔(dān)要盡量合理，要力求避免由各個面的大像差來抵消很多面的異號像差。

(2)相對孔徑h/r或入射角很大的面即曲率半徑小的面，一定要使其彎向光闌，以使主光線的偏角或 ip角盡量小(即降低主光線的投射高)，以減少軸外像差。反之，背向光闌的面只能有較小的相對孔徑。

(3)像差不可能校正到*無缺的理想程度，*的像差應(yīng)有合理的匹配。這主要是指：軸上點像差與各個視場的軸外像差要盡可能一致，以便能在軸向離焦時使像質(zhì)同時有所改善;軸上點或近軸點的像差與軸外點的像差不要有太大的差別，使整個視場內(nèi)的像質(zhì)比較均勻，至少應(yīng)使0.7視場范圍內(nèi)的像質(zhì)比較均勻。為確保0.7視場內(nèi)有較好的質(zhì)量，必要時寧愿放棄全視場的像質(zhì)(讓他有更大像差)。因為在0.7視場以外已非成像的主要區(qū)域，當(dāng)畫幅為矩形時(如照相底片)，此區(qū)域僅是像面一角，其像質(zhì)的相對重要性可以較低些。

(4)挑選對像差變化靈敏、像差貢獻較大的表面改變其半徑。當(dāng)系統(tǒng)中有多個這樣的面時，應(yīng)挑選其中既能改良所要改的那種像差，又能兼顧其他像差的面來進行修改。在像差校正的*階段尚需對某一、二種像差做微量修改時，作單面修改也是能奏效的。

(5)若要求單色像差有較大變化而保持色差不變，可對某個透鏡或透鏡組作整體彎曲。這種做法對消除色差和匹茲瓦以外的所有像差均屬有效。

(6)利用折射球面的反常區(qū)。在一個光學(xué)系統(tǒng)中，負的發(fā)散面或負透鏡常是為校正正透鏡的像差而設(shè)置，它們只能是少數(shù)。因此，讓正的會聚面處于反常區(qū)，使其在對光起會聚作用的同時，產(chǎn)生與發(fā)散面同號的像差就顯得特別有利。設(shè)計者應(yīng)善于利用這一性質(zhì)。

(7)利用透鏡或透鏡組處于特殊位置時的像差性質(zhì)。例如，處于光闌或與光闌位置接近的透鏡或透鏡組，主要用于改變球差和彗差(用整體彎曲的方法);遠離光闌位置的透鏡或透鏡組，主要用來改變像散、畸變和倍率色差。在像面或像面附近的負場鏡可以用來校正像面彎曲。

(8)對于對稱型結(jié)構(gòu)的光學(xué)系統(tǒng)，可以選擇成對的對稱參數(shù)進行修改。作對稱性變化以改變軸向像差，作非對稱變化以改變垂軸像差。

(9)利用膠合面改變色差或其他像差，并在必要時調(diào)換玻璃?？梢栽谠z合透鏡中更換等折射率不等色散的玻璃，也可在適當(dāng)?shù)膯螇K透鏡中加入一個等折射率不等色散的膠合面。膠合面還可用來校正其他像差，尤其是高級像差。此時，膠合面二邊應(yīng)有適當(dāng)?shù)恼凵渎什?，可根?jù)像差的校正需要，使它起會聚或發(fā)散作用，半徑也可正可負，從而在像差校正方面得到很大的靈活性。同時，在需要改變膠合面二邊的折射率差以改變像差的形態(tài)、或微量控制某種高級像差，以及需要改變某透鏡所承擔(dān)的偏角等場合，都能通過調(diào)換玻璃而奏效。

(10)合理的攔截光束和選定光闌位置?？讖胶鸵晥龆急容^大的光學(xué)系統(tǒng)，軸外的寬光束常表現(xiàn)出很大的球差和彗差，使y'~tgU'特性曲線上下很不對稱。原則上，應(yīng)首先立足于把像差盡可能校正好，在確定無法把寬光束部分的像差校正好的情況下，可以把光束中y’值變化大的外圍部分光線攔去，以消除其對像質(zhì)的有害影響，并在設(shè)計的*階段，根據(jù)像差校正需要*終確定光闌位置linji876。