便攜式全反射X射線熒光元素分析儀
OURSTEX200TX
特點(diǎn):搭載SDD檢測(cè)輸出裝置、本體重量8kg、可以分析ppb精度、不需要液氮和冷卻水
用途:檢測(cè)井水、河水、污水;分析土壤、玩具的溶出水;食品、醫(yī)藥學(xué)、鑒定領(lǐng)域的現(xiàn)場(chǎng)分析;毛發(fā)、大氣懸浮顆粒的成分分析。
測(cè)定原理:全反射X射線熒光分析法,針對(duì)基座表面全反射臨界角以下角度照射,不侵入試驗(yàn)基板之內(nèi),不會(huì)造成基板內(nèi)部X射線散亂發(fā)射的情況,因此可以進(jìn)行極微量級(jí)別的分析。
規(guī)格
測(cè)定原理
全反射X射線熒光分析法
測(cè)定對(duì)象
液體、飲用水、土壤滲出水、污水等
測(cè)定元素
13AI~92U ppb~量級(jí) 響應(yīng)時(shí)間≤10分鐘
發(fā)射源
X射線
樣本基座
石英載片
裝置重量
8kg
測(cè)試環(huán)境
大氣
射線輸出
0-48kV,0.2mA max / 48-50kV,0.175mA max
檢測(cè)器
電子冷卻式SDD
數(shù)據(jù)處理
數(shù)字處理方式DSP(Digital Signal Processor)
使用條件
溫度
5~27°C
濕度
20~75%
電源
AC 100 5A或AC 220 3A
設(shè)置
設(shè)置D型接地線
其他附屬
噴墨式彩色打印機(jī),鼠標(biāo)等。
便攜式(車(chē)載式)全反射X射線熒光元素(包括重金屬)分析儀的技術(shù)指標(biāo)
1.用途
適用于地表水、飲用水源、污水以及土壤等污染事故區(qū)域及周邊大氣懸浮顆粒中的元素(包括重金屬成分)的監(jiān)測(cè),實(shí)現(xiàn)輕松便攜,全反射X射線熒光測(cè)試物質(zhì)中未知元素的定性/定量分析及監(jiān)測(cè)結(jié)果數(shù)據(jù)儲(chǔ)存等功能。
2.一般要求
電源要求:220VAC+10%,50/60Hz(附加變壓器)或100AC,5A:
環(huán)境溫度要求:5-27°C:
環(huán)境濕度要求:20-75%;
3.系統(tǒng)配置
系統(tǒng)主要由全反射x射線熒光測(cè)試單元,元素種類(lèi)和濃度的定性/定量分析軟件以及操作單元等部分組成。
·全反射X射線熒光分析儀主機(jī)1臺(tái)
·數(shù)據(jù)獲取
·全反射x射線熒光檢測(cè)器
·系統(tǒng)自動(dòng)控制、數(shù)據(jù)獲取及接口組件1套
·筆記本電腦1臺(tái)
·元素定性/定量分析軟件系統(tǒng)
4.技術(shù)要求
系統(tǒng)技術(shù)指標(biāo)
·測(cè)量成分:元素13AI~92U
·量程范圍:ppb~100%量級(jí)
·響應(yīng)時(shí)間:≤10分鐘
·裝置重量:8kg(分析單元本體6kg)
·可用于便攜以及車(chē)載測(cè)量
·多組分測(cè)量:可同時(shí)測(cè)量以上各種元素(濃度高于檢測(cè)限)
全反射X射線熒光分析儀
·輸出范圍:0-48kV,0.2mA max/48—50kV.0.1 75mA max
·試樣平臺(tái):石英光學(xué)平板 ·計(jì)數(shù)回路:數(shù)字處理方式(DigitaI Signal Processor)
·型 式:電子冷卻式SDD ·試樣室周?chē)鷼怏w:大氣
軟件及光譜數(shù)據(jù)庫(kù)
·軟 件:光譜測(cè)量、未知元素的定性/定量分析、結(jié)果顯示、數(shù)據(jù)儲(chǔ)存
·數(shù)據(jù)庫(kù):可同于定性及定量分析的各種元素(元素13AI~-92U)
系統(tǒng)操作控制系統(tǒng)
·配置系統(tǒng)控制器(內(nèi)置的CPU芯片)和操作軟件(基于Windows操作系統(tǒng)),圖形化用戶界面;
·能夠進(jìn)行整個(gè)系統(tǒng)測(cè)試、定量分析及監(jiān)測(cè)結(jié)果數(shù)據(jù)等的參數(shù)設(shè)定和控制功能;
·提供計(jì)算機(jī)操作控制軟件(光盤(pán))。
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便攜式全反射X射線熒光元素分析儀
OURSTEX200TX
特點(diǎn):搭載SDD檢測(cè)輸出裝置、本體重量8kg、可以分析ppb精度、不需要液氮和冷卻水
用途:檢測(cè)井水、河水、污水;分析土壤、玩具的溶出水;食品、醫(yī)藥學(xué)、鑒定領(lǐng)域的現(xiàn)場(chǎng)分析;毛發(fā)、大氣懸浮顆粒的成分分析。
測(cè)定原理:全反射X射線熒光分析法,針對(duì)基座表面全反射臨界角以下角度照射,不侵入試驗(yàn)基板之內(nèi),不會(huì)造成基板內(nèi)部X射線散亂發(fā)射的情況,因此可以進(jìn)行極微量級(jí)別的分析。
規(guī)格
測(cè)定原理
全反射X射線熒光分析法
測(cè)定對(duì)象
液體、飲用水、土壤滲出水、污水等
測(cè)定元素
13AI~92U ppb~量級(jí) 響應(yīng)時(shí)間≤10分鐘
發(fā)射源
X射線
樣本基座
石英載片
裝置重量
8kg
測(cè)試環(huán)境
大氣
射線輸出
0-48kV,0.2mA max / 48-50kV,0.175mA max
檢測(cè)器
電子冷卻式SDD
數(shù)據(jù)處理
數(shù)字處理方式DSP(Digital Signal Processor)
使用條件
溫度
5~27°C
濕度
20~75%
電源
AC 100 5A或AC 220 3A
設(shè)置
設(shè)置D型接地線
其他附屬
噴墨式彩色打印機(jī),鼠標(biāo)等。
便攜式(車(chē)載式)全反射X射線熒光元素(包括重金屬)分析儀的技術(shù)指標(biāo)
1.用途
適用于地表水、飲用水源、污水以及土壤等污染事故區(qū)域及周邊大氣懸浮顆粒中的元素(包括重金屬成分)的監(jiān)測(cè),實(shí)現(xiàn)輕松便攜,全反射X射線熒光測(cè)試物質(zhì)中未知元素的定性/定量分析及監(jiān)測(cè)結(jié)果數(shù)據(jù)儲(chǔ)存等功能。
2.一般要求
電源要求:220VAC+10%,50/60Hz(附加變壓器)或100AC,5A:
環(huán)境溫度要求:5-27°C:
環(huán)境濕度要求:20-75%;
3.系統(tǒng)配置
系統(tǒng)主要由全反射x射線熒光測(cè)試單元,元素種類(lèi)和濃度的定性/定量分析軟件以及操作單元等部分組成。
·全反射X射線熒光分析儀主機(jī)1臺(tái)
·數(shù)據(jù)獲取
·全反射x射線熒光檢測(cè)器
·系統(tǒng)自動(dòng)控制、數(shù)據(jù)獲取及接口組件1套
·筆記本電腦1臺(tái)
·元素定性/定量分析軟件系統(tǒng)
4.技術(shù)要求
系統(tǒng)技術(shù)指標(biāo)
·測(cè)量成分:元素13AI~92U
·量程范圍:ppb~100%量級(jí)
·響應(yīng)時(shí)間:≤10分鐘
·裝置重量:8kg(分析單元本體6kg)
·可用于便攜以及車(chē)載測(cè)量
·多組分測(cè)量:可同時(shí)測(cè)量以上各種元素(濃度高于檢測(cè)限)
全反射X射線熒光分析儀
·輸出范圍:0-48kV,0.2mA max/48—50kV.0.1 75mA max
·試樣平臺(tái):石英光學(xué)平板 ·計(jì)數(shù)回路:數(shù)字處理方式(DigitaI Signal Processor)
檢測(cè)器
·型 式:電子冷卻式SDD ·試樣室周?chē)鷼怏w:大氣
軟件及光譜數(shù)據(jù)庫(kù)
·軟 件:光譜測(cè)量、未知元素的定性/定量分析、結(jié)果顯示、數(shù)據(jù)儲(chǔ)存
·數(shù)據(jù)庫(kù):可同于定性及定量分析的各種元素(元素13AI~-92U)
系統(tǒng)操作控制系統(tǒng)
·配置系統(tǒng)控制器(內(nèi)置的CPU芯片)和操作軟件(基于Windows操作系統(tǒng)),圖形化用戶界面;
·能夠進(jìn)行整個(gè)系統(tǒng)測(cè)試、定量分析及監(jiān)測(cè)結(jié)果數(shù)據(jù)等的參數(shù)設(shè)定和控制功能;
·提供計(jì)算機(jī)操作控制軟件(光盤(pán))。