良益LCL—13臺式薄膜測厚儀產品介紹
LCL-13型臺式薄膜測厚儀根據多次反射光譜相干原理,本儀器可提供非接觸測量薄膜厚度,折射率,吸收系數等;采用*軟件版本,具有納米級測量和方便使用等優(yōu)點;測量方便度和準確度遠好于常用光學橢偏儀。是薄膜研究,光學鍍膜,和半導體生產不可缺少的測量研究儀器。
學會薄膜和涂層的厚度測量及折射率和吸收系數的測定
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良益LCL—13臺式薄膜測厚儀產品介紹
LCL-13型臺式薄膜測厚儀根據多次反射光譜相干原理,本儀器可提供非接觸測量薄膜厚度,折射率,吸收系數等;采用*軟件版本,具有納米級測量和方便使用等優(yōu)點;測量方便度和準確度遠好于常用光學橢偏儀。是薄膜研究,光學鍍膜,和半導體生產不可缺少的測量研究儀器。
良益LCL—13薄膜測厚儀實驗內容學會薄膜和涂層的厚度測量及折射率和吸收系數的測定
良益LCL—13臺式薄膜測厚儀配置參數