儀器名稱：
原子力顯微鏡（AFM）
型    號：
日本精工SPA400 布魯克Dimension Edge

原子力顯微鏡（AFM）檢測項目：
高度圖 相圖 表面粗糙度 三維立體圖 其他

原子力顯微鏡（AFM）應用范圍：
廣泛地應用于表面分析的各個領域,通過對表面形貌的分析、歸納、結,以獲得更深層次的信息。它可以用于研究金屬、半導體和非金屬類材料的表面形貌、表面重構、摩擦力，獲得相界、分形結構和橫向力等信息的空間三維圖像。

原子力顯微鏡（AFM）測試制樣要求：
樣粉末樣10mg，塊狀、薄膜樣品大1×1cm，厚度厚0.5cm，液體樣品5ml
樣品上下表面整潔，沒有油漬灰塵等污染物
儀器大掃描范圍15×15×3um
若是納米顆粒樣品，先用一定的分散劑超聲分散后，取一滴在云母等很平整的基底上，干燥后測試。若沒有云母片，請在測試前到本實驗室來取。
如果樣品表面有無機鹽，先用水等清除鹽分后來測試，因為鹽分結晶影響形貌的掃描。
如果是要測試薄膜厚度，預先把薄膜和基底作出一個邊界清楚的臺階。

原子力顯微鏡（AFM）測試流程
1、客戶提出測試要求（在線預約）
2、細節(jié)溝通（溝通）
3、下載填寫測試委托單
4、測試委托單和樣品郵寄
5、聯(lián)系客服付款
6、安心等待
7、接受數(shù)據(jù)發(fā)票
8、后期服務
以上是對于原子力顯微鏡（AFM）測試的相關介紹，如有其它檢測需求可以咨詢實驗室工程師，為您一對一服務。