牛津膜厚儀X-Strata920日立鍍層測厚儀

牛津膜厚儀又叫牛津鍍層測厚儀、金厚測量儀、金鎳測量儀、X射線熒光測厚儀等等，不管是叫法他們所指的都是同一類產品。牛津膜厚儀X-Strata920可用于電子元器件、半導體、PCB、FPC、LED支架、汽車零部件、功能性電鍍、裝飾件、連接器、端子、衛(wèi)浴潔具、首飾飾品.....多個行業(yè)表面鍍層厚度的測量及材料分析，低成本，高效率。

X-Strata920這一*的工具可確保樣品符合規(guī)格，同時通過避免過度電鍍和返工來降低成本。操作員只需加載樣品，將其定位在屏幕上的目標下方，使用激光焦點對齊，即可開始測量。結果在幾秒內即可顯示出來，然后操作員可快速執(zhí)行下一個任務。得益于通過可追溯標準打造的優(yōu)化校準方式，您將對結果的準確性充滿信心。使用X-Strata920可遵從各種行業(yè)規(guī)范，如IPC-4552A、ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987。

一、牛津膜厚儀X-Strata920工作原理及測量方法介紹

1.熒光X射線微小面積鍍層厚度測量儀的特征

1)可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度

2)可通過CCD攝像機來觀察及選擇任意的微小面積以進行微小面積鍍層厚度的測量，避免直接接觸或破壞被測物。

3)薄膜FP法軟件是標準配置，可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進行測量。此外，適 用于無鉛焊錫的應用。 4)備有250種以上的鍍層厚度測量和成分分析時所需的標準樣品。

2.測量原理 

物質經X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放 出來。熒光X射線鍍層厚度測量或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。

3.鍍層厚度的測量方法

鍍層厚度的測量可分為標準曲線法和FP法(基本參數法)2種。標準曲線法是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X射線的能量和強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量示知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。

二、牛津膜厚儀X-Strata920的工作特點：

1.測量元素范圍：鈦Ti22---*U92；

2.測量5層（4層鍍層+底材層）鍍層，同時分析15種元素，自動修正X射線重疊譜線；

3.測量精度高、穩(wěn)定性好，測量結果**至μin；

4.快速無損測量，測量時間短，10秒內得出測量結果；

5.可分析固體、溶液；定性、半定量和定量分析；

6.進行貴金屬檢測，如Au karat評價；

7.材料鑒別和分類檢測，材料和合金元素分析，元素光譜定性分析；

8.強大的數據統(tǒng)計、處理功能：平均值、標準偏差、相對標準偏差、 大值、 小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數據分組、X-bar/R圖表、直方圖；

9.結果輸出：直接打印或一鍵導出到PDF、Excel文件；報告包含數據、圖像、統(tǒng)計圖表、客戶信息等；

10.測量位置預覽功能；高分辨率彩色CCD樣品觀察系統(tǒng)，標準光學放大倍數為30倍；

11.激光對焦和自動對焦功能；單擊鼠標，Z軸自動掃描，鐳射聚焦

12.擁有NIST的標準片；提供服務及技術服務。

三、牛津膜厚儀X-Strata920配置
1.X-Strata920測試主機
2.聯(lián)想ThinkCentre計算機（原IBM）------Windows7中文版、SmartLink FP分析軟件包
3.17吋戴爾Dell液晶顯示器
4.佳能Canon彩色噴墨打印機
5.標準片組件（滿足鍍層需要）
四、牛津膜厚儀X-Strata920操作方法
*步：將產品放置在樣品臺上
無損分析，無需樣品制備，開槽式樣品倉便于放置產品，大樣品臺便于大面積產品（如：PCB）測量，配備了門開閉傳感器，增強了安全性
第二步：一鍵完成視頻聚焦
一鍵自動鐳射聚焦，避免人為操作誤差標配固定焦距12.7mm，選配變焦，高分辨率、高放大倍率的彩色數碼影像裝置，畫面清晰、測試點*定位；放大倍數：30倍（標配），50倍（選配）自動臺：利用可編程XY樣品臺和Z軸實現單次或多次分析操作
簡單快速的多點分析
第三步：點擊”GO”一鍵完成測量
1.幾秒內顯示結果
2.保存、打印或傳輸結果
3.測試結果可一鍵導出PDF（標配）、Excel（選配）
使用預置和客戶自定義的報告模板