熱工類儀器校準:溫度計、溫濕度計、烤箱、恒溫恒濕機、鹽霧試驗機、耐寒試驗機、耐黃變試驗機、熔融指數(shù)試驗機、電線加熱變形試驗機、溫度巡檢儀、爐溫測試儀、多點采集器、恒溫槽(水槽、油槽、水浴鍋)、輻射溫度計等。

理化類儀器校準:可調(diào)移液器、常用玻璃量器（量筒、燒杯、容量瓶等）、pH計、密度計、波美計、白度計、聲級計、照度計、光澤度計、旋轉(zhuǎn)粘度計、紫外分光光度計、原子吸收分光光度計、色差儀、電位滴定儀、X射線熒光光譜儀（ROHS檢測儀）、電導(dǎo)率儀、氣相色譜儀、液相色譜儀、頻閃儀、透光率儀、木材水分測濕儀、標(biāo)準光源箱等。

韶關(guān)仁化縣壓力變送器檢測機構(gòu)圖(1)

  經(jīng)典光譜儀器都是狹縫光譜儀器。調(diào)制光譜儀是非空間分光的，它采用圓孔進光根據(jù)色散組件的分光原理,光譜儀器可分為:
   棱鏡光譜儀，衍射光柵光譜儀和干涉光譜儀.光學(xué)多道OMA(Optical Multi-channel Analyzer)是近十幾年出現(xiàn)的采用光子探測器(CCD)和計算機控制的*光譜分析儀器,它集信息采集，處理，存儲諸功能于一體。
   由于OMA不再使用感光乳膠,避免和省去了暗室處理以及之后的一系列繁瑣處理，測量工作，使傳統(tǒng)的光譜技術(shù)發(fā)生了根本的改變,大大改善了工作條件，提高了工作效率：
   使用OMA分析光譜，測盆準確迅速，方便，且靈敏度高，響應(yīng)時間快，光譜分辨率高，測量結(jié)果可立即從顯示屏上讀出或由打印機，繪圖儀輸出。
   它己被廣泛使用于幾乎所有的光譜測量，分析及研究工作中,特別適應(yīng)于對微弱信號，瞬變信號的檢測。
CAN-bus的可靠性很高，但是在某些情況下還是發(fā)生錯誤，為了使數(shù)據(jù)能夠在總線上可靠傳輸，CAN-bus規(guī)范對各類幀的格式、用途及發(fā)送時機都進行了詳細的規(guī)定。并實現(xiàn)在CAN控制器中自動完成幀格式處理及校驗等工作，一旦錯誤被檢測，正在傳送的數(shù)據(jù)幀將會立即停止而待總線空閑時再次重發(fā)直至發(fā)送*，該過程并不需要CPU的干涉除非錯誤累計該發(fā)送器退隱。CAN-bus的可靠性很高，但是在某些情況下還是發(fā)生錯誤，為了使數(shù)據(jù)能夠在總線上可靠傳輸，CAN-bus規(guī)范對各類幀的格式、用途及發(fā)送時機都進行了詳細的規(guī)定。



韶關(guān)仁化縣壓力變送器檢測機構(gòu)圖(2)

發(fā)射光譜分析的過程
   光譜分析儀的分析原理是將光源輻射出的待測元素的特征光譜通過樣品的蒸汽中待測元素的基態(tài)原子所吸收，由發(fā)射光譜被減弱的程度，進而求得樣品中待測元素的含量。
    1．把試樣在能量的作用下蒸發(fā)、原子化(轉(zhuǎn)變成氣態(tài)原子)，并使氣態(tài)原子的外層電子激發(fā)至高能態(tài)。當(dāng)從較高的能級躍遷到較低的能級時；

CSP(ChipScalePACkage)：芯片級封裝，該方式相比BGA同等空間下可以將存儲容量提升三倍，是由日本三菱公司提出來的。DIP(DualIn-linePACkage)：雙列直插式封裝，插裝型封裝，指采用雙列直插形式封裝的集成電路芯片，體積比較大。MCM(MultiChipModel)：多芯片模塊封裝，可根據(jù)基板材料分為MCM-L，MCM-C和MCM-D三大類。QFP(QuadFlatPackage)：四側(cè)引腳扁平封裝，表面貼裝型封裝，引腳通常在100以上，適合高頻應(yīng)用，基材方面有陶瓷、金屬和塑料三種。
   原子將釋放出多余的能量而發(fā)射出特征譜線。這一過程稱為蒸發(fā)、原子化和激發(fā)，需借助于激發(fā)光源來實現(xiàn)。

2．把原子所產(chǎn)生的輻射進行色散分光，按波長順序記錄在感光板上，就可呈現(xiàn)出有規(guī)則的光譜線條，即光譜圖。系借助于攝譜儀器的分光和檢測裝置來實現(xiàn)。



韶關(guān)仁化縣壓力變送器檢測機構(gòu)圖(3)

 3．根據(jù)所得光譜圖進行定性鑒定或定量分析。由于不同元素的原子結(jié)構(gòu)不同，當(dāng)被激發(fā)后發(fā)射光譜線的波長不盡相同；
   即每種元素都有其特征的波長，故根據(jù)這些元素的特征光譜就可以準確無誤的鑒別元素的存在(定性分析)；
     儀器的校準：送至認可之校驗單位校驗，提供檢驗報告書，并可追溯溯源。內(nèi)校：使用可追溯經(jīng)校驗合格的標(biāo)件，作為廠內(nèi)儀器的內(nèi)校依據(jù)，由廠內(nèi)合格校驗人員執(zhí)行校驗游校：須進行外校儀器/設(shè)備由于體積態(tài)大或靈敏度很高不方便搬動，第三方檢測機構(gòu)人員下廠進行校驗。
檢測時只需要一臺電子天平對翡翠進行稱重，經(jīng)過計算得到實際的密度，與相對密度進行比較。翡翠的相對密度為3.30-3.36，與其他礦物可以進行區(qū)分。折射儀那么翡翠的透明度又要如何進行科學(xué)測定呢？一般翡翠都是呈現(xiàn)半透明至不透明的狀態(tài)，極少數(shù)是透明的，通過肉眼就可以觀察到這些。根據(jù)《翡翠透明度測量和分級》，可以通過檢測透過率對翡翠的透明度進行分級。在沒有寶石顯微鏡的情況下，鑒定人員可使用聚光手電、放大鏡觀察到翡翠的透明度。

HIL測試一大部分是真實模擬切換和故障注入。真實模擬切換意味著每個I/O點必須能夠在模擬的模型驅(qū)動信號和真實的組件（執(zhí)行器、傳感器、控制器等）之間進行物理切換。故障注入開關(guān)需要注入各種故障（開路、斷路、引腳短路、反極性、短接地、與軌道短路、相鄰信號短路）來確保被測設(shè)備反應(yīng)適當(dāng)。這些需求意味著需要大量的開關(guān)，每一個簡單的2線模擬信號可能需要6-12個繼電器，以確保能夠排除故障和真實模擬連接的所有交換。 

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