冷鏈監(jiān)測(cè)的重要性在新版的GSP中，對(duì)于醫(yī)藥企業(yè)的倉(cāng)儲(chǔ)溫濕度實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)、冷鏈物流以及運(yùn)輸?shù)阮I(lǐng)域提出了更高的要求。而在此變革環(huán)境下，醫(yī)藥冷鏈面臨著一系列深刻的變革。然而，從現(xiàn)實(shí)情況來(lái)看，醫(yī)藥冷鏈容易斷鏈的環(huán)節(jié)就是藥品的冷鏈運(yùn)輸環(huán)節(jié)。而對(duì)于冷鏈運(yùn)輸與環(huán)節(jié)來(lái)說(shuō)，其為重要的部分就是實(shí)現(xiàn)全程的溫度監(jiān)控，以限度確保藥品品質(zhì)，減小損耗，從而盡可能滿足消費(fèi)者的需求。對(duì)于大多數(shù)醫(yī)用血液、生物制劑、疫苗和藥品而言，在貨物運(yùn)輸過(guò)程中由于其所含蛋白質(zhì)成分易受環(huán)境溫度變化的影響導(dǎo)致變質(zhì)現(xiàn)象發(fā)生，而溫度敏感性藥品的流通安全是藥品安全的重要組成部分，因此需要非常嚴(yán)格的溫度監(jiān)控。

經(jīng)典光譜儀器都是狹縫光譜儀器。調(diào)制光譜儀是非空間分光的，它采用圓孔進(jìn)光根據(jù)色散組件的分光原理,光譜儀器可分為:
   棱鏡光譜儀，衍射光柵光譜儀和干涉光譜儀.光學(xué)多道OMA(Optical Multi-channel Analyzer)是近十幾年出現(xiàn)的采用光子探測(cè)器(CCD)和計(jì)算機(jī)控制的*光譜分析儀器,它集信息采集，處理，存儲(chǔ)諸功能于一體。
   由于OMA不再使用感光乳膠,避免和省去了暗室處理以及之后的一系列繁瑣處理，測(cè)量工作，使傳統(tǒng)的光譜技術(shù)發(fā)生了根本的改變,大大改善了工作條件，提高了工作效率：
   使用OMA分析光譜，測(cè)盆準(zhǔn)確迅速，方便，且靈敏度高，響應(yīng)時(shí)間快，光譜分辨率高，測(cè)量結(jié)果可立即從顯示屏上讀出或由打印機(jī)，繪圖儀輸出。
   它己被廣泛使用于幾乎所有的光譜測(cè)量，分析及研究工作中,特別適應(yīng)于對(duì)微弱信號(hào)，瞬變信號(hào)的檢測(cè)。
對(duì)于儀器本身，用戶們希望儀器能在被測(cè)產(chǎn)品工作之后立刻產(chǎn)生測(cè)試譜線和頻率、幅度數(shù)據(jù)，但是往往這需要一個(gè)時(shí)間過(guò)程。RIGOL的DSA系列頻譜分析儀具備快速響應(yīng)的特性，同時(shí)其“連續(xù)峰值”功能，可以保證在信號(hào)譜線被捕捉到的同時(shí)，實(shí)時(shí)捕獲當(dāng)前的調(diào)制載波頻率和發(fā)射功率，連帶工人操作被測(cè)產(chǎn)品時(shí)間測(cè)試速度達(dá)到5s/個(gè)。圖三：RIGOL-DSA12測(cè)試界面B，定制化測(cè)試系統(tǒng)，以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試。為了進(jìn)一步加快測(cè)試速度，同時(shí)實(shí)時(shí)保存測(cè)試數(shù)據(jù)，進(jìn)一步統(tǒng)一產(chǎn)品的測(cè)試評(píng)判標(biāo)準(zhǔn)，RIGOL工程師為客戶開(kāi)發(fā)了一款遙控器自動(dòng)測(cè)試軟件。


雁山光度計(jì)檢測(cè)圖(1)
巴氏酵母和短乳桿菌分離的實(shí)驗(yàn)裝置示意圖。在入口處（即A-A），巴氏酵母和短乳桿菌隨機(jī)分散。在慣性分餾（即B-B）之后，巴氏酵母沿著通道的內(nèi)壁聚焦，并且通過(guò)在分叉點(diǎn)處放置適當(dāng)?shù)某隹?，可以分離這些細(xì)胞。在梯形截面的螺旋通道中，通過(guò)慣性升力和迪恩阻力的聯(lián)合作用，內(nèi)壁受力大于外壁，酵母細(xì)胞向出口內(nèi)壁遷移。研究人員通過(guò)評(píng)估，選擇1.5mL/min的流速作為流速，對(duì)巴氏酵母可以實(shí)現(xiàn)過(guò)90％的分離效率。此外，為了提高短乳桿菌的分離效率，將其通過(guò)螺旋微通道再循環(huán)三次，分離效率可達(dá)90％以上。


雁山光度計(jì)檢測(cè)圖(2)

發(fā)射光譜分析的過(guò)程

   光譜分析儀的分析原理是將光源輻射出的待測(cè)元素的特征光譜通過(guò)樣品的蒸汽中待測(cè)元素的基態(tài)原子所吸收，由發(fā)射光譜被減弱的程度，進(jìn)而求得樣品中待測(cè)元素的含量。
    1．把試樣在能量的作用下蒸發(fā)、原子化(轉(zhuǎn)變成氣態(tài)原子)，并使氣態(tài)原子的外層電子激發(fā)至高能態(tài)。當(dāng)從較高的能級(jí)躍遷到較低的能級(jí)時(shí)；

你可以把電源看作水庫(kù)，我們大樓內(nèi)的家家戶戶都需要供水，這時(shí)候，水不是直接來(lái)自于水庫(kù)，那樣距離太遠(yuǎn)了，等水過(guò)來(lái)，我們已經(jīng)渴的不行了。實(shí)際水是來(lái)自于大樓頂上的水塔,水塔其實(shí)是一個(gè)buffer的作用。如果微觀來(lái)看，高頻器件在工作的時(shí)候，其電流是不連續(xù)的，而且頻率很高，而器件VCC到電源有一段距離，即便距離不長(zhǎng)，在頻率很高的情況下，阻抗Z=i*wL+R，線路的電感影響也會(huì)非常大，會(huì)導(dǎo)致器件在需要電流的時(shí)候，不能被及時(shí)供給。
   原子將釋放出多余的能量而發(fā)射出特征譜線。這一過(guò)程稱為蒸發(fā)、原子化和激發(fā)，需借助于激發(fā)光源來(lái)實(shí)現(xiàn)。

2．把原子所產(chǎn)生的輻射進(jìn)行色散分光，按波長(zhǎng)順序記錄在感光板上，就可呈現(xiàn)出有規(guī)則的光譜線條，即光譜圖。系借助于攝譜儀器的分光和檢測(cè)裝置來(lái)實(shí)現(xiàn)。



雁山光度計(jì)檢測(cè)圖(3)

 3．根據(jù)所得光譜圖進(jìn)行定性鑒定或定量分析。由于不同元素的原子結(jié)構(gòu)不同，當(dāng)被激發(fā)后發(fā)射光譜線的波長(zhǎng)不盡相同；
   即每種元素都有其特征的波長(zhǎng)，故根據(jù)這些元素的特征光譜就可以準(zhǔn)確無(wú)誤的鑒別元素的存在(定性分析)；
     儀器的校準(zhǔn)：送至認(rèn)可之校驗(yàn)單位校驗(yàn)，提供檢驗(yàn)報(bào)告書，并可追溯溯源。內(nèi)校：使用可追溯經(jīng)校驗(yàn)合格的標(biāo)件，作為廠內(nèi)儀器的內(nèi)校依據(jù)，由廠內(nèi)合格校驗(yàn)人員執(zhí)行校驗(yàn)游校：須進(jìn)行外校儀器/設(shè)備由于體積態(tài)大或靈敏度很高不方便搬動(dòng)，第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)人員下廠進(jìn)行校驗(yàn)。
手機(jī)、智能手表等便攜設(shè)備迅速普及，用戶端及嵌入式系統(tǒng)對(duì)GUI性能和外觀要求也越來(lái)越高。ZLG推出的AWTK憑借著開(kāi)源、簡(jiǎn)單易用、跨平臺(tái)同步開(kāi)發(fā)等優(yōu)勢(shì)，逐漸在電子、工業(yè)控制等行業(yè)大放異彩。AWTK全稱為ToolkitAnywher，是ZLG傾心打造的一套基于C語(yǔ)言開(kāi)發(fā)的GUI框架。旨在為用戶提供一個(gè)功能強(qiáng)大、可靠、簡(jiǎn)單易用、可輕松做出炫酷效果的GUI引擎，并支持跨平臺(tái)同步開(kāi)發(fā)，一次編程，終生使用。


雁山光度計(jì)檢測(cè)圖(4)
一個(gè)8位二進(jìn)制數(shù)有28=256個(gè)可能值，如果某個(gè)速度計(jì)使用8位來(lái)表示0到255公里/小時(shí)范圍的速度，則速度值將以1公里/小時(shí)的間隔進(jìn)行顯示，因此司機(jī)會(huì)有約0.5公里/小時(shí)的誤差，這類誤差稱為量化誤差。泰仕如果速度范圍是0到127公里/小時(shí)，那么這256個(gè)可能值就被擠入一個(gè)更小的空間，誤差也相應(yīng)減小了一半。認(rèn)為量化誤差是僅有的測(cè)量誤差是一個(gè)危險(xiǎn)的錯(cuò)誤，但也是一個(gè)常見(jiàn)錯(cuò)誤。各類測(cè)量設(shè)備包括數(shù)據(jù)采集產(chǎn)品的產(chǎn)品資料和目錄中一般關(guān)注幾個(gè)指標(biāo)：分辨率、測(cè)量范圍、采樣率和帶寬，其中分辨率就是用來(lái)代表信號(hào)實(shí)際值的二進(jìn)制數(shù)字的長(zhǎng)度，一般從8位到24位，力博它只會(huì)影響量化誤差。
X射線光譜分析儀的好壞常常是以X射線強(qiáng)度測(cè)量的理論統(tǒng)計(jì)誤差來(lái)表示的，BX系列波長(zhǎng)色散X射線熒光儀的穩(wěn)定性和再現(xiàn)性，已足以保證待測(cè)樣品分析測(cè)量的精度，被分析樣品的制樣技術(shù)成為影響分析準(zhǔn)確度的至關(guān)重要的因素，在樣品制備方面所花的工夫?qū)?huì)反映在分析結(jié)果的質(zhì)量上。X射線熒光儀器分析誤差的來(lái)源主要有以下幾個(gè)方面：1.采樣誤差：非均質(zhì)材料樣品的代表性2.樣品的制備：制樣技術(shù)的穩(wěn)定性產(chǎn)生均勻樣品的技術(shù)3.不適當(dāng)?shù)臉?biāo)樣：待測(cè)樣品是否在標(biāo)樣的組成范圍內(nèi)標(biāo)樣元素測(cè)定值的準(zhǔn)確度標(biāo)樣與樣品的穩(wěn)定性4.儀器誤差：計(jì)數(shù)的統(tǒng)計(jì)誤差樣品的位置靈敏度和漂移重現(xiàn)性5.不適當(dāng)?shù)亩繑?shù)學(xué)模型：不正確的算法元素間的干擾效應(yīng)未經(jīng)校正顆粒效應(yīng)純物質(zhì)的熒光強(qiáng)度隨顆粒的減小而增大，在多元素體系中，已經(jīng)證明一些元素的強(qiáng)度與吸收和增應(yīng)有關(guān)，這些效應(yīng)可以引起某些元素的強(qiáng)度增加和另一些元素的強(qiáng)度減小。 

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